Microscopio electrónico de barrido

Cuando el haz de electrones irradia la muestra, los electrones reaccionarán con la muestra de varias maneras. Algunos de los electrones pueden pasar directamente a través de la muestra; algunos de los electrones son dispersados ​​por la muestra y algunos de los electrones se reflejan desde la superficie de la muestra. Al recolectar todos estos diferentes tipos de electrones y obtener imágenes de ellos, se crean diferentes tipos de microscopios electrónicos. Entre ellos, los electrones reflejados desde la superficie de la muestra se recolectan y se obtienen imágenes. Este tipo de microscopio electrónico se llama microscopio electrónico de barrido.

1. El principio de funcionamiento del microscopio electrónico de barrido es que bajo la acción de alto voltaje, los electrones emitidos por el cátodo caliente son enfocados y acelerados por el campo eléctrico entre el cátodo, la rejilla y el ánodo. Los puntos de haz de electrones con muy alta energía que forman un espacio entre la rejilla y el ánodo se denominan fuentes de electrones. Luego, el condensador comprime este punto del haz de electrones, lo condensa en un haz de electrones extremadamente fino y lo enfoca en la superficie de la muestra. Bajo la acción de la bobina de escaneo, este haz de electrones finamente enfocado de alta energía escanea la superficie de la muestra e interactúa con la misma. Muestra. Excite varias señales físicas. La intensidad de diversas señales físicas está relacionada con las características de la superficie de la muestra, que pueden detectarse, amplificarse y obtener imágenes utilizando los detectores correspondientes para diversos análisis microscópicos. Las principales señales recogidas por un microscopio electrónico de barrido son los electrones secundarios y los electrones emitidos.

2. La estructura del microscopio electrónico de barrido Dado que las características de trabajo del microscopio electrónico de barrido son diferentes a las del microscopio electrónico de transmisión, sus estructuras también son muy diferentes. Un microscopio electrónico de barrido generalmente consta de un sistema de escritura óptica electrónica, un sistema de escaneo, un sistema de detección y amplificación de señales, un sistema de visualización y registro de imágenes, un sistema de vacío y un sistema de suministro de energía. El sistema óptico de electrones consta principalmente de un cañón de electrones, un condensador electromagnético, una abertura y una cámara de muestra. A diferencia del microscopio electrónico de transmisión, su función no se utiliza para obtener imágenes, sino solo para obtener un haz de electrones finamente enfocado de alta energía. Es la fuente de excitación para que la muestra produzca diversas señales. La función del sistema de escaneo es hacer que el haz de electrones incidente barre regularmente la superficie de la muestra y escanear la pantalla fluorescente sincrónicamente con el haz de electrones del tubo de rayos catódicos, cambiando la amplitud de escaneo del haz de electrones incidente en la superficie de la muestra para obtener la imagen ampliada requerida. El sistema de escaneo consta principalmente de un generador de escaneo, una bobina de escaneo y un convertidor de aumento. Bajo la acción de los electrones incidentes, varias señales físicas generadas en la superficie de la muestra se detectan y convierten y amplifican en señales utilizadas para modular imágenes o realizar otros análisis. Este proceso completa este proceso. Se utilizan diferentes detectores para detectar diferentes señales físicas. Actualmente, los detectores más utilizados en los microscopios electrónicos de barrido son principalmente detectores electrónicos y detectores de rayos X.

3. Preparación de muestras para microscopía electrónica de barrido Una característica destacada de la microscopía electrónica de barrido es su gran adaptabilidad a todas las muestras sólidas, ya sean a granel, en polvo, metálicas o no metálicas, orgánicas e inorgánicas. se puede observar. Además, la preparación de muestras es relativamente sencilla, pero aún requiere ciertas técnicas y requisitos; de lo contrario, no se pueden lograr resultados satisfactorios. Los principales requisitos para las muestras en los microscopios electrónicos de barrido generales son: tamaño adecuado y buena conductividad. Cuanto mayor sea la profundidad de campo del microscopio electrónico de barrido, más tridimensional será la imagen.