El principio del microscopio electrónico de barrido sem.

El principio de la microscopía electrónica de barrido sem se basa en la interacción entre los electrones y la materia. En principio, la microscopía electrónica de barrido utiliza un haz de electrones de alta energía muy finamente enfocado para escanear la muestra y estimular diversa información física. Al recibir, amplificar y mostrar esta información, se obtienen observaciones de la topografía de la superficie del espécimen de prueba.

SEM es un microscopio electrónico, también conocido como microscopio electrónico de barrido en chino, que produce imágenes de la superficie de la muestra escaneando la superficie de la muestra con un haz de electrones enfocado. Consta de un sistema óptico electrónico, un sistema de visualización y recogida de señales, un sistema de vacío y un sistema de suministro de energía, y se utiliza en campos como la biología, la medicina, los materiales y la química. La microscopía electrónica de barrido (SEM) es un método de observación de la morfología microscópica entre la microscopía electrónica de transmisión y la microscopía óptica. Puede utilizar directamente las propiedades de los materiales de la superficie de la muestra para obtener imágenes microscópicas. Las ventajas del microscopio electrónico de barrido son que tiene un gran aumento, que se puede ajustar continuamente entre 200.000 y 200.000 veces, tiene una gran profundidad de campo, un gran campo de visión y una imagen tridimensional, y puede observar directamente; los detalles de las superficies irregulares de varias muestras la preparación de la muestra es simple. Los microscopios electrónicos de barrido actuales están equipados con dispositivos de espectrómetro de energía de rayos X, que pueden observar la morfología de la microestructura y analizar los componentes de las microrregiones al mismo tiempo, por lo que son un instrumento de investigación científica muy útil en la actualidad.